装置简介

  装置主要由精密直流源、红外光源、单色仪、控制器（含信号检测）、标准探测器、计算机以及测控软件组成。采用替代法测量相对光谱响应，通过传递探测器溯源到低温辐射计。

主要用途

装置主要用于测量红外探测器件（单元探测器、红外焦平面阵列）的相对光谱响应以及红外探测器件（单元探测器、红外焦平面阵列）相对光谱响应测试系统的计量校准。

主要技术指标

  光波长范围：（1～15）μm

  单元红外探测器相对光谱响应测量不确定度：

  3.6％ (1μm～5μm，k=2)

  4.6％ (5μm～15μm，k＝2)

  红外焦平面阵列相对光谱响应测量不确定度：6% （k＝2）