装置简介

  装置主要由可调谐激光光源、偏振控制器、光纤干涉装置、参考高速O/E器件、频谱分析仪、矢量网络分析仪、光功率计、微波功率计等组成。采用改进的光外差干涉技术对高速光电器件带宽进行测量。

主要用途

  装置可以准确测量各种带宽达40GHz的O/E和E/O器件的频率响应特性，通过标准件实现对O/E和E/O器件频率响应特性测试系统的计量校准。

主要用途

  装置可以准确测量各种带宽达40GHz的O/E和E/O器件的频率响应特性，通过标准件实现对O/E和E/O器件频率响应特性测试系统的计量校准。

主要技术指标

  校准波长：1310nm、1550nm

  测量频率范围：300kHz～6GHz、1GHz～40GHz

  带宽测量不确定度：5% （k＝2）