装置介绍

装置主要由相关光子源、皮秒脉冲激光器、时间幅度转换仪、信号发生器、计数器等仪器等组成。采用相关光子法测量单光子探测器的量子效率。利用激光衰减脉冲光源激励单光子探测器产生光子计数脉冲，通过计数器等仪器测量时间特性参数。利用超低噪声放大器和陷阱探测器把光子流速率溯源到低温辐射计光功率标准，实现单光子探测器性能参数的测量。

主要用途

装置主要用于超灵敏探测技术领域中的单光子探测器计数特性参数测量。

主要技术指标

测量波长：780nm、1550nm；

光子流速率测量不确定度：2.5%（k=2）；

探测效率测量不确定度：0.8%（k=2）；

后脉冲概率测量不确定度：20%（k=2）；

死时间测量不确定度：2%（k=2）；

暗计数率测量不确定度：2%～5%（k=2）；

时间抖动测量不确定度：5%（k=2）。