装置简介

装置由面源黑体、铂电阻温度计、红外热像仪等部分组成。采用红外热像仪成像法实现对面源黑体辐射非均匀性的校准；采用红外热像仪辐射测温法，通过和标准面源黑体对比测量，实现对面源黑体发射率的校准。

主要用途

装置主要用于面源黑体的发射率、温度示值以及辐射非均匀性的计量校准。

主要技术指标

温度范围：5℃～95℃

发射率测量不确定度：5%（k=2）

辐射非均匀性测量不确定度：5%（k=2）

温度示值测量不确定度：0.2℃（k=2）