装置简介

装置由积分球、单色仪、标准探测器、三维电控位移台、数据采集系统、计算机及测控软件等部分组成。采用单色均匀光辐射法测量CCD器件的量子效率。

主要用途

主要用于军用、科学级及商用可见光CCD器件量子效率的测量。

主要技术指标

波长范围：400nm～1100nm

量子效率测量不确定度：4.0％（k=2）