装置简介

装置由高均匀性积分球、光源控制器、三维电控位移台、数据采集系统、计算机及测控软件等部分组成。采用积分球均匀光辐射法测量CCD器件响应度非均匀性。

主要用途

主要用于军用、科学级及商用可见光CCD器件响应度非均匀性的测量。

主要技术指标

波长范围：400nm～1100nm

非均匀性测量不确定度：0.6％（k=2）